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光學(xué)冷熱臺是一款針對研究樣品變溫光學(xué)性能測試而設(shè)計的產(chǎn)品，可表征樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特征。
一、儀器用途：
光學(xué)冷熱臺是一款針對研究樣品變溫光學(xué)性能測試而設(shè)計的產(chǎn)品，可表征樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特征。
產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-190~600℃（選型）或RT~1000℃（選型）范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制，與其他光學(xué)設(shè)備（如顯微鏡、拉曼光譜等）搭配集成，進行變溫原位測試。根據(jù)需要，還可以選型光反射或光透射模式。
產(chǎn)品需要與溫度控制器、致冷控制器（選配）配套使用，配套的上位機控溫軟件方便進行溫度設(shè)置及采集，提供的Labview Vis方便客戶進行定制化編程。
二、儀器特點：
?溫度范圍：-190~600℃ / RT~1200℃
?溫度穩(wěn)定性：±0.1℃（＜600℃）±1℃（＞600℃）
?支持反射/透射模式
?氣密腔室，可通保護氣體
?腔室可升級真空腔室（10^(-3) mbar）
?上位機軟件控制 支持改動或定制
四、光學(xué)冷熱臺應(yīng)用案例：
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